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美国杜克大学Krishnendu Chakrabarty教授访问我室开展学术交流
2017-09-19 15:34   审核人:   (已浏览:)

应顾华玺教授的邀请,美国杜克大学Krishnendu Chakrabarty教授来我室交流访问,并于9月18日上午在新科技楼1012会议室做了题为“The Hype, Myths, and Realities of Testing 2.5D/3D Integrated Circuits”的学术报告。

Krishnendu Chakrabarty教授对2.5D/3D集成电路的发展进行了介绍,强调了2.5D/3D集成电路在信息社会中的优势,并指出测试技术和可设计的可测试性(DfT)问题及真实性检验是阻碍2.5D/3D集成电路广泛采用的主要障碍。Krishnendu Chakrabarty教授从测试2.5D/3D集成电路关键问题,即要测试什么、如何测试及何时进行测试三个问题出发,系统地介绍了其研究团队所做的相关工作及提出的相关技术和解决方案。最后,Krishnendu Chakrabarty教授总结了研究测试2.5D/3D集成电路的一些研究方法,启发并激励了与会师生的研究思路和科研热情。

在提问互动环节中,Krishnendu Chakrabarty教授与在场师生积极互动,耐心细致地解答了师生的相关疑惑。Krishnendu Chakrabarty教授生动有趣的讲解以及扎实深厚的学术功底给大家留下深刻印象。学生们也表示开拓了视野,了解到很多新知识,收获颇丰。

人物简介:

Krishnendu Chakrabarty,1995年在密歇根大学安娜堡分校获博士学位。杜克大学电子与计算机工程系主任,William H. Younger Distinguished Professor of Engineering。Chakrabarty教授曾获得the National Science Foundation Early Faculty(CAREER)award、the IEEE Computer Society Technical Achievement Award以及11 best papers awards at leading IEEE conferences等奖项。他目前的主要研究方向包括:集成电路和系统的测试和可测试性设计等。Chakrabarty教授是ACM Fellow、IEEE Fellow以及Golden Core Member of the IEEE Computer Society。担任2015-2016IEEE Transactions on VLSI Systems的主编以及多个IEEE期刊的编辑。他是the Journal of Electronic Testing: Theory and Applications(JETTA)的编辑。

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